Программа конференции HOLOEXPO 2022

Программа конференции HOLOEXPO 2022

Предварительная программа

20 сентября (вторник)

10:00 – 18:00 Регистрация участников

13:00 – 18:00 Семинары (по предварительной регистрации, оплачиваются дополнительно)

Семинар №1 Эволюция защитной голографии в эпоху глобальной цифровизации. Вытеснят ли цифровые решения оптическую защиту на физических носителях

Семинар №2 Актуальные вопросы и перспективы развития систем дополненной реальности

19:00 – 21:00 Открытие выставки. Приветственный коктейль, посвященный 75-летию голографии

21 сентября (среда)

9:00 – 13:00 Открытие конференции. Пленарное заседание

14:00 – 18:00 Тематические секции

9:00 – 18:00 Работа выставки

22 сентября (четверг)

9:00 – 18:00 Тематические секции

9:00 – 18:00 Работа выставки

19:00 – 22:00 Гала-ужин

23 сентября (пятница)

Экскурсия в Ораниенбаум (программа уточняется, по предварительной регистрации)

Пленарное заседание
Современные тенденции развития голографии и прикладных оптических технологий

П.1Сопоставительный анализ хроматизма склеенного нанокомпозитного компонента и дифракционной линзы

Григорий Исаевич Грейсух, Е. Г. Ежов, О. А. Захаров, С. В. Казин / Пензенский государственный университет архитектуры и строительства, Пенза, Россия

П.2Резонансные, голографические, спекл-оптические исследования фазовых, диффузных и зеркальных объектов

Леонид Викторович Танин / ЗАО «ГОЛОГРАФИЧЕСКАЯ ИНДУСТРИЯ», Минск, Беларусь

П.3Основные тренды развития стеклообразных материалов для применений в фотонике и голографии в XXI веке

Николай Валентинович Никоноров / Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия

П.4Цифровая голография частиц и ее применения

Виктор Валентинович Дёмин, И. Г. Половцев / Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия

П.5Технологии формообразования и методы лазерно-голографического контроля всех типов оптических асферических поверхностей. Новаторская деятельность ГИПО в отрасли с начала 1960-х годов до наших дней

Анатолий Васильевич Лукин / АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

Секция 1
Управление параметрами лазерного излучения

1.1Полностью оптический шейпинг трёхмерного солитона самоиндуцированной прозрачности в парах 87Rb

С. Н. Багаев2, И. Б. Мехов1, Игорь Анатольевич Чехонин1, М. А. Чехонин1 / 1 — Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия; 2 — Институт лазерной физики СО РАН, Новосибирск, Россия

Секция 2
Лазерные технологии в микрооптике, нанофотонике и структурированном свете

2.1Прямая запись субволновых микроструктур на пленках аморфного кремния излучением полупроводникового лазера с λ=405 nm

Аскар Асанбекович Кутанов1, В. П. Корольков2, Н. Сыдык уулу1 / 1 — Институт физики имени академика Ж. Ж. Жеенбаева, Национальная Академия наук, Бишкек, Киргизия; 2 — Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия

2.2Гиперлегирование кремния серой с помощью прямой лазерной записи: от фундаментальных исследований к практическим результатам

С. И. Кудряшов1, Михаил Сергеевич Ковалев1, Г. К. Красин1, К. А. Хамидуллин1, 2 / 1 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия; 2 — Акционерное общество «НПО «Орион», Москва, Россия

2.3Запись светоулавливающих структур на поверхности металлов ультракороткими лазерными импульсами

Иван Михайлович Подлесных1, 2, М. С. Ковалев2, И. В. Гриценко2, Г. К. Красин2, С. И. Кудряшов2 / 1 — Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия; 2 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия

Секция 3
Дифракционные и голограммные оптические элементы и их применения

3.1Дифракционная эффективность пилообразных двухрельефных микроструктур в рамках электромагнитной теории дифракции

Григорий Исаевич Грейсух, А. И. Антонов, Е. Г. Ежов / Пензенский государственный университет архитектуры и строительства, Пенза, Россия

3.2Анализ встраиваемых 2D дифракционных сенсорных элементов для контроля долговременной нестабильности систем лазерной записи ДОЭ

Дмитрий Александрович Белоусов, В. П. Корольков, Р. В. Шиманский, Р. И. Куц / Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия

3.3Возможности лазерно-голографического контроля процессов восстановления расчетной формы и заданного позиционирования компонентов крупноформатной оптической системы в условиях космического базирования на примере телескопа «Миллиметрон»

А. В. Лукин, Андрей Николаевич Мельников, А. Ф. Скочилов / АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

3.4Делительные машины маятникового типа − новые перспективные средства прецизионного формирования с наноразмерной точностью периодических штриховых структур на поверхностях с большой стрелкой прогиба

Андрей Николаевич Мельников / АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

3.5Сравнительный анализ алгоритмов расчета оптических систем с использованием композитных голограммных оптических элементов

Дамир Маратович Ахметов1, 2, Э. Р. Муслимов1, Д. Ю. Харитонов1, 2, И. А. Гуськов1, 2, Н. К. Павлычева1, А. Р. Гильфанов1, 2, А. И. Терентьев1 / 1 — Казанский национальный исследовательский технический университет имени А. Н. Туполева — КАИ, Казань, Россия; 2 — АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

3.6Особенности формирования и свойства объемных и рельефных решеток в фотополимерных материалах

Павел Павлович Соколов, Н. Д. Ворзобова / Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия

3.7Исследование дифракционных характеристик и фотоиндуцированной проводимости регулярных доменных структур в кристалле танталата лития на основе методов Брэгговской дифракции

Евгений Николаевич Савченков1, Н. И. Буримов1, С. М. Шандаров1, А. Р. Ахматханов2, М. А. Чувакова2, В. Я. Шур2 / 1 — Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия; 2 — Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия

Секция 4
Корреляционная и сингулярная оптика

Секция 5
Оптические системы визуализации и отображения информации

5.1Применение голографических бим-комбайнеров в различных типах дисплеев дополненной реальности

Андрей Николаевич Путилин1, А. В. Морозов1, 2, В. В. Дружин2, 3 / 1 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия; 2 — ООО «Исследовательский центр Самсунг», Москва, Россия; 3 — Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия

5.2Искажения неосевых голографических линзовых элементов в схемах дисплеев дополненной реальности

Николай Андреевич Путилин1, 2, С. С. Копенкин2, 3, С. Е. Дубынин2, 4, А. Н. Путилин2, Ю. П. Бородин2, 3 / 1 — Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК), Москва, Россия; 2 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия; 3 — МИРЭА - Российский технологический университет, Москва, Россия; 4 — ООО «Исследовательский центр Самсунг», Москва, Россия

5.3Осевая голограмма в системах дополненной реальности

Анастасия Андреевна Калинина1, А. Н. Путилин2 / 1 — Московский физико-технический институт, Москва, Россия; 2 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия

5.4Качество восстановленного 3D голографического контента после передачи динамической голографической информации методом сжатия, аналогичным SSB

Сергей Александрович Шойдин, А. Л. Пазоев / Сибирский государственный университет геосистем и технологий, Новосибирск, Россия

Секция 6
Технологии цифровой голографии и литографии

Секция 7
Интерферометрия и метрология

7.1Исследование когерентных и поляризационных характеристик рассеянного лазерного излучения при контроле качества поверхностей оптических деталей

Дмитрий Геннадьевич Денисов, В. Е. Карасик / Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия

7.2Цифровая мера для метрологического обеспечения видеоизмерительных систем

Геннадий Николаевич Вишняков, В. Л. Минаев, Г. Г. Левин, А. А. Голополосов / ФГУП "ВНИИОФИ", Москва, Россия

7.3Интерферометр для воспроизведения, хранения и передачи двумерного пространственного распределения (профиля) единицы показателя преломления твердых веществ

Геннадий Николаевич Вишняков, В. Л. Минаев / ФГУП "ВНИИОФИ", Москва, Россия

7.4Методы измерений показателя преломления оптических сред: преимущества и недостатки

А. В. Лукин1, А. Н. Мельников1, Александр Николаевич Чеплаков1, 2 / 1 — АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия; 2 — Казанский национальный исследовательский технический университет имени А. Н. Туполева — КАИ, Казань, Россия

7.5Интерферометр Тваймана-Грина с применением метода фазовых шагов

Иван Юрьевич Фандиенко, Р. В. Минаев, Д. Б. Охрименко / ООО "Электростекло", Москва, Россия

Секция 8
Оптическая обработка информации

Секция 9
Оптические защитные технологии

9.1Формирование вращающихся и произвольно трансформирующихся световых полей для повышения защитных свойств голограмм.

Чермен Борисович Кайтуков1, С. И. Зайцев2, А. А. Свинцов2 / 1 — АО «Научно-технический центр «Атлас», Москва, Россия; 2 — Институт проблем технологии микроэлектроники РАН, Черноголовка, Россия

9.2CONTRUST - новый полихромный динамический защитный признак в семействе фотополимерных элементов 3D-GRAM

Станислав Сергеевич Орлов, А. В. Смирнов, Д. И. Макаров, А. М. Сергиенко, М. И. Ситник / АО НПО «КРИПТЕН», Дубна, Россия

Секция 10
Фоточувствительные материалы

10.1Актуальные исследования кинетики записи голограмм с использованием формфактора

Сергей Александрович Шойдин, А. Ю. Мешалкин / Сибирский государственный университет геосистем и технологий, Новосибирск, Россия

Секция 11
Динамическая голография

11.1Импульсная голографическая запись и диагностика объемных и тонкопленочных полупроводников методом динамических решеток

Алексей Леонидович Толстик, Е. В. Ивакин, И. Г. Даденков, А. А. Станкевич / Белорусский государственный университет, Минск, Беларусь

11.2Динамические отражательные решетки в кристаллах силленитов

Станислав Михайлович Шандаров1, Н. И. Буримов1, С. С. Шмаков1, М. А. Костеников1, В. Н. Навныко2 / 1 — Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия; 2 — Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина, Мозырь, Беларусь

11.3Исследование попутного взаимодействия циркулярно-поляризованных волн в кристалле BSO на основе метода адаптивной голографической интерферометрии

Андрей Олегович Злобин, А. А. Шмидт, Н. И. Буримов, С. М. Шандаров / Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия

Секция 12
Микрооптика и метаматериалы

Секция 13
Фазовая визуализация и цифровая микроскопия

13.1Фазовая визуализация на основе уравнения переноса интенсивности

Михаил Сергеевич Ковалев, И. В. Гриценко, Н. Г. Сцепуро / Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия

13.2Оптические методы и исследование субклеточной структуры функционирующей клетки

Георгий Владимирович Максимов / Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Москва, Россия

Секция 14
Новые прикладные оптические технологии

14.1Оценка погрешности величины хорды при видеоэндоскопии рабочих лопаток паровых турбин большой единичной мощности

Лилиана Сергеевна Родикова, В. В. Коротаев, А. Н. Тимофеев / Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия

14.2Перспективы применения спекл-фотоники процессов, протекающих в живой и неживой материи

Александр Петрович Владимиров / Институт машиноведения УрО РАН, Уральский федеральный университет, Екатериннбургский НИИ вирусных инфекций, Екатеринбург, Россия

14.3Подбор, синтез и исследование полимерных композиций для прецизионной репликации всех видов оптических поверхностей

А. В. Жданова, Е. Г. Лисова, Анатолий Васильевич Лукин, А. Н. Мельников, А. И. Садрутдинов / АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

14.4Усовершенствование устройства диагностики неисправностей высоковольтного оборудования

А. В. Лукин1, А. Н. Мельников1, Н. К. Павлычева2, Александр Николаевич Чеплаков1, 2 / 1 — АО «Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия; 2 — Казанский национальный исследовательский технический университет имени А. Н. Туполева — КАИ, Казань, Россия

Секция 15
Системы мульти- и гиперспектральной визуализации

15.1Спектральные дифракционные линзы для визуализации тканей и сосудов в медицине

Владимир Владимирович Подлипнов, В. А. Бланк, М. М. Хамза / Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва, Самара, Россия

15.2Матрицы гармонических линз как дисперсионный элемент гиперспектрометра на основе цветной светочувствительной матрицы

Роман Васильевич Скиданов1, 2, В. А. Бланк1, 2, С. В. Ганчевская1, 2, В. В. Подлипнов1, 2, Н. А. Ивлиев1, 2 / 1 — Институт систем обработки изображений РАН — филиал ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН, Самара, Россия; 2 — Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва, Самара, Россия

15.3Расчет и изготовление согласованных микрорельефов гармонических и спектральных линз для дисперсионных элементов

Р. В. Скиданов1, 2, София Владиславовна Ганчевская1, 2 / 1 — Институт систем обработки изображений РАН — филиал ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН, Самара, Россия; 2 — Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва, Самара, Россия

Секция 16
Квантовая голография и обработка информации

Стендовые доклады

С.1Расширитель пучка для системы когерентной подсветки с низким контрастом спеклов

А. В. Морозов1, 2, Сергей Евгеньевич Дубынин1, 2, А. Н. Путилин2, С. С. Копенкин2, 3, Ю. П. Бородин2, 3 / 1 — ООО «Исследовательский центр Самсунг», Москва, Россия; 2 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия; 3 — РТУ МИРЭА, Москва, Россия

С.2Моделирование голографического волновода для коллиматорного прицела

Ольга Леонидовна Афанасьева, А. Б. Соломашенко, В. А. Кулин / Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия

С.3Сравнительные возможности коррекции наклонов волнового фронта при использовании сигналов от традиционной и полихроматической лазерной опорной звезды

В. П. Лукин, Лидия Адольфовна Больбасова / Институт оптики атмосферы СО РАН, Томск, РФ

С.4Метод компенсации искажений виртуального изображения, формируемого дисплеем дополненной реальности на базе цилиндрического дифракционного волновода

Александр Евгеньевич Ангервакс1, Г. Н. Востриков1, Н. В. Муравьев1, Р. А. Окунь1, А. С. Перевозникова1, А. Н. Путилин2 / 1 — ООО "Исследовательский Центр Самсунг", Москва, Россия; 2 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия

С.5Цифровой контроль качества голограмм

Дмитрий Борисович Чекунин1, И. К. Цыганов2, Д. С. Лушников2, Е. Ю. Злоказов3 / 1 — Научно-исследовательский институт - филиал АО "Гознак", Москва, Россия; 2 — Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия; 3 — Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва, Россия

С.6Определение влияния качества кварцевого стекла на изготовления пластины маятника акселерометра

Ирина Юрьевна Цельмина / Раменский приборостроительный завод АО "РПЗ", Раменское, Россия

С.7Нестационарная фото-ЭДС в широкозонных полупроводниках Ga2O3 и SiC

М. Брюшинин1, И. Соколов1, Станислав Шандаров2 / 1 — ФТИ им. А.Ф. Иоффе, Санкт-Петербург, Россия; 2 — Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия

С.8Структура трехмерных голограмм, полученных в галогенидосеребряных средах на основе нанопористых силикатных матриц

О. В. Андреева, Валерия Александровна Пономарёва, Н. В. Андреева, М. Г. Хохлов / Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия

С.9Влияния отклонений 3D формы спиральной микро-структуры на свойства формируемого вихревого пучка в ближней зоне дифракции

Павел Алексеевич Хорин1, С. Н. Хонина1, 2 / 1 — Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва, Самара, Россия; 2 — Институт систем обработки изображений РАН — филиал ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН, Москва, Россия