Программа конференции HOLOEXPO 2023

Программа конференции HOLOEXPO 2023

Программа конференции формируется, итоговая программа будет опубликована 1 июля.

Перечень поданных заявок доступен для скачивания.

12 сентября (вторник)

10:00 – 12:00 Чтения памяти С. Б. Одинокова

13:00 – 15:00 Круглый стол «Актуальные вопросы и перспективы развития систем дополненной реальности». Научная часть

15:00 – 15:30 Кофе-брейк

15:30 – 17:30 Круглый стол «Актуальные вопросы и перспективы развития систем дополненной реальности». Прикладная часть

19:00 – 21:00 Приветственный коктейль

13 сентября (среда)

09:00 – 12:30 Пленарное заседание

12:30 – 13:30 Обед

13:30 – 16:00 Тематические секции

16:00 – 18:00 Секция стендовых докладов

14 сентября (четверг)

09:00 – 13:30 Тематические секции

13:30 – 14:30 Обед

14:30 – 18:00 Тематические секции

19:00 – 22:30 Торжественный ужин

15 сентября (пятница)

Экскурсия (по предварительной регистрации)

Пленарное заседание
Тенденции развития оптических технологий

П.1Интеллектуальный голографический синтез и нейроподобные оптико-цифровые дифракционные системы обработки информации - обзор

Ростислав Сергеевич Стариков / Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва, Россия

П.2Новые квантовые и гибридные технологии записи дифракционных микро-оптических элементов в прозрачных материалах ультракороткими лазерными импульсами

Сергей Иванович Кудряшов1, А. Е. Рупасов1, В. В. Кесаев1, Н. А. Смирнов1, В. Я. Шур2, А. Р. Ахматханов2, М. С. Кособоков2 / 1 — Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия; 2 — Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия

П.3Интегральная фотоника на подложках ниобата лития и новые принципы генерации, передачи и обработки оптических сигналов

И. В. Ильичёв, П. М. Агрузов, А. А. Усикова, М. В. Парфенов, А. В. Тронев, А. В. Варламов, Александр Валерьевич Шамрай / ФТИ им. А.Ф. Иоффе, Санкт-Петербург, Россия

П.4Мониторинг сельскохозяйственных полей в видимом, инфракрасном и гиперспектральном режимах съемки

Николай Львович Казанский1, 2, Р. В. Скиданов1, 2, А. Н. Бабичев1, 3, Н. А. Ивлиев1, 2, А. В. Никоноров1, 2, В. В. Подлипнов1, 2, В. А. Сойфер1, 2, В. А. Фурсов1, 2 / 1 — Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва, Самара, Россия; 2 — ИСОИ РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук, Самара, Россия; 3 — Российский НИИ проблем мелиорации (РосНИИПМ), Новочеркасск, Россия

П.5Голографический датчик волнового фронта с применением диффузной Фурье-голографии

Владимир Юрьевич Венедиктов / Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» имени В. И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия; Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия

П.6Применение дифракционных оптических элементов для контроля промышленных изделий

Петр Сергеевич Завьялов1, 2, М. С. Кравченко1, М. В. Савченко1 / 1 — Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия; 2 — Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, Россия

Секция 1
Структурированный свет и управление параметрами лазерного излучения

Секция 2
Дифракционные и голограммные оптические элементы, микрооптика и метаматериалы

Секция 3
Системы визуализации и отображения информации для AR/VR

Секция 4
Технологии цифровой голографии и литографии

Секция 5
Интерферометрия и метрология

Секция 6
Оптическая обработка информации

Секция 7
Оптические защитные технологии

Секция 8
Фоточувствительные материалы

Секция 9
Динамическая голография и беспроводные оптические коммуникации

Секция 10
Фазовая визуализация и цифровая микроскопия

Секция 11
Новые прикладные оптические технологии

Секция 12
Квантовые технологии

Стендовые доклады

С.1Магнито-индуцированная невзаимность в резонансных кремниевых волноводах с высокой степенью поперечного вращения электрического поля

Никита Геннадьевич Юхтанов1, М. В. Рыбин1, 2 / 1 — Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия; 2 — Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия